خانه مطالب فنی آزمون های سنسورهای شتابنگاری IIEES-HAT

یکی از موارد بسیار مهم در تعیین مشخصات یک سنسور، اندازه سطح نوفه دستگاه یا self-noise سنسور می‌باشد. این موضوع از آن جهت حائز اهمیت است که میزان سطح نوفه دستگاه تعیین کننده میزان قابلیت سنسور در تشخیص ریزلرزها و فازهای لرزه‌ای کوچک می‌باشد. از آنجا که میزان دامنه و انرژی فاز P زمین­لرزه در مقایسه با سایر فازهای زلزله بسیار کوچکتر می‌باشد، میزان سطح نوفه دستگاه در واقع مشخص کننده میزان قابلیت شناسایی فاز P نیز هست. در طراحی سنسورهای شتابنگاری IIEES-HAT برای کاهش میزان نویز از دو تکنیک oversampling و dual sensor استفاده شده است. به عبارت دیگر، به منظور کاهش سطح نوفه ی پس زمینه، میزان نمونه برداری 26×3 برابر مقدار لازم انجام می‌پذیرد؛ و همچنین برای هر جهت نیز دو عدد سنسور اقدام به ثبت ارتعاشات می‌کنند. در این گزارش سعی شده است سطح نوفه سنسورهای HAT با آزمایش­هایی مورد بررسی قرار گیرد. به این منظور آزمایش ­هایی در پژوهشگاه بین ­المللی زلزله شناسی و مهندسی زلزله و ایستگاه شبکه لرزه­ نگاری این پژوهشگاه در دماوند انجام شده است.

نحوه ­ی ­انجام آزمایش و نتایج آن به تفصیل در فایل پیوست ارائه شده است.

 

پیوست: SelfNoise.pdf (1133KB)



به ما بپیوندید